číslo produktu:153073
rezervujElectron Microscopy and Multiscale Modeling
Rok vydania: 2008
Vydavateľ: Springer
Kniha je momentálne nedostupná.
V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.
O knihe:
The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.
Zaradenie do kategórii:
Podrobnosti o titule (výrobné údaje):
Väzba: tvrdá