Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

číslo produktu:124087

rezervuj

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Hnatek

Rok vydania: 1993

Vydavateľ: Springer

Kniha je momentálne nedostupná.

V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.

Podrobnosti o titule (výrobné údaje):

Vydavateľstvo: Springer

Rok vydania: 1993

ISBN: 978-0-442-00643-3

(9780442006433)

Väzba: tvrdá