číslo produktu:141467
rezervujAdvances in Scanning Probe Microscopy
Rok vydania: 2000
Vydavateľ: Springer
Kniha je momentálne nedostupná.
V prípade dlhodobého záujmu si urobte REZERVÁCIU a my vám odložíme žiadaný kus.
O knihe:
This book covers several of the most important topics of current interest at the forefront of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors and atomic manipulation for future single-electron devices.
Zaradenie do kategórii:
Podrobnosti o titule (výrobné údaje):
Väzba: tvrdá